복잡한 데이터 소스를 위한 메타데이터 스캐너
Enterprise Data Catalog Advanced Scanner를 사용하면 가장 세분화된 메타데이터를 자동으로 추출하고 데이터 소스 전반에서 데이터 종속성을 추적할 수 있습니다.
제품 사양
Advanced Scanner: 주요 특징
복잡한 시스템에서 가장 세분화된 메타데이터를 추출하여 데이터 관계에 대한 이해도를 높일 수 있습니다. .
고급 종속성 추적
여러 소스에서 데이터에 발생한 모든 변환을 이해합니다.
'블랙박스' 효과 제거
엔드 투 엔드 데이터 흐름 분석을 위해 맞춤 앱, 메인프레임, 레거시 시스템에 대한 전체 계보 보기를 확인하십시오.
멀티벤더 ETL 툴 지원
IBM InfoSphere DataStage, Microsoft SSIS, Oracle Data Integrator 등의 도구에서 메타데이터와 계보를 추출할 수 있습니다.
SQL 언어에서 추출
정적 코드와 동적 코드를 모두 스캔하고 SQL 언어 및 저장 프로시저에서 자세한 데이터 계보를 파악하십시오.
규모에 맞게 맞춤 콘텐츠 추출
독점 솔루션의 맞춤 코드 및 콘텐츠에서 메타데이터를 표면화합니다.
참조 아키텍처
미래 지향적 참조
디지털 혁신을 가속화하는 아키텍처
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분석 보고서, 전자책 및 기타 보기
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