複雑なデータソースからメタデータをスキャン
Enterprise Data Catalog Advanced Scannersは、複数のデータソースにわたって最も細かい粒度でメタデータを自動抽出し、データの依存関係を追跡します。
製品機能
Advanced Scanners：主な機能
複雑なシステムにわたって、最も細かい粒度でメタデータを抽出し、データの関係への理解を深めることができます。
高度な依存関係の追跡
ソースを問わず、すべてのデータ変換を把握できます。
ブラックボックスの解消
カスタムアプリ、メインフレーム、レガシーシステムのリネージを完全に把握して、データフローをエンドツーエンドに分析できます。
複数ベンダーのETLツールに対応
IBM InfoSphere DataStage、Microsoft SSIS、Oracle Data Integratorなどのツールからメタデータとリネージュを抽出できます。
SQLダイアレクトから抽出
静的コードと動的コードの両方をスキャンして、SQLダイアレクトやストアドプロシージャから詳細なデータリネージを取得できます。
大規模なカスタムコンテンツから抽出
自社開発ソリューションのカスタム開発コードやコンテンツからメタデータを抽出できます。
リファレンスアーキテクチャ
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